2011年志凌伟业在深圳成立,是黄光蚀刻工艺金属网格铜电容触摸屏专业制造商。
公司拥有自主技术研发团队,自主研发、生产和销售金属网格铜电容触摸屏,积累了丰富的经验和知识,有着多行业的整机触控拼接实践应用经验。我们专注于智慧教育、智慧商务、智慧零售、智慧医疗等人机交互终端设备领域的触控应用,在行业中处于领先地位。我们不断致力于产品的创新、改进和完善,为客户提供高性价比、高品质的产品。
志凌伟业的金属网格电容触摸屏(PCAP)构建了具有更高准确性、更高性能和卓越光学清晰度的触控解决方案。与其他种类的 PCAP 相比,Metal Mesh 提供了更大的信号强度,这不仅为我们的触控解决方案带来了更高的准确性,而且还带来了更快的性能。PCAP 触摸依靠驱动层和传感层之间非常小的信号强度差异来确定触摸发生在屏幕上的位置和时间。
金属网格电容传感膜使用金属导体的格子图案在传感层上产生具有均匀信号强度的电场。因为这些导体非常精细,它们几乎是看不见的。它们极小的尺寸允许来自显示器内更多的光源能辐射到外界,使得图像画面更加明亮且清晰。
我们将技术创新作为永久发展的动力,核心团队在触摸屏领域经验丰富,在产品技术革新,开发方面具有雄厚的实力,以客户服务至上为立身之本,积极致力于向业界提供高品质、高标准的产品和优质的服务。
公司除了利用金属网格技术(Metal Mesh Technology)设计和制造电容触摸屏,还利用金属网格技术延伸到 MiniLED背光线路板、汽车加热膜、5G透明薄膜天线、EMI电磁波屏蔽膜等应用领域。
![]() | 3M金属网世界专利中国首家被许可人。 线不可视:金属网格(Metal Mesh)技术可视区线宽线路精度可小于10μm,尺寸可达110寸。 超窄边框 (86寸多面FPC,最窄边框4.8mm,最宽边框<1cm)。 抗干扰能力强、高度稳定性、柔性强、支持可折叠/大面积异形触控。 触摸灵敏 (报点率高>120 point)、精准度高。 无光学问题(无摩尔纹、黑视、彩虹纹问题)。 支持书写用精密有源笔/铅笔/电磁电容笔等。 支持超大尺寸GFF触控屏迭构、可实现窄边框和无边框。 使用寿命长 (>6000万次)。 唯一可过环境测试的超大尺寸触摸屏,能通过高温高湿(温度85度,湿度85%),产品稳定性和环境可靠性高。 产品表面采用防水、防爆设计。 |
![]() | 全球首款大尺寸86寸金属网格铜柔性触控屏:可实现柔性弯折、可绕、不规则曲面等特殊应用环境。 全球首款防水金属网格铜触控屏:可以实现水中触摸,抗干扰能力强,阻值低,触摸灵敏。 全球首款大于10毫米介质触控屏:对防爆等级有特殊要求,比如银行、军工系统等触摸屏。 全球首款110寸金属网格铜触控屏:超大尺寸电容式触摸屏是技术的颠覆和革新,替代原有的红外线工艺和 ITO氧化铟锡工艺,不需要多片拼接实现单片电容式一体化触控。 全球首款投影触控屏:不需要液晶屏的投入,在投影上实现触摸的低成本集成方案。 支援极细主动与被动笔 (精密笔写):可支持到笔尖2毫米 |
![]() | 本公司还支持产品样品打样。 客户可以在进行试制验证和评估后,放心地购买。 |
![]() | 本公司可以根据客户的要求量身定制的产品。 本公司不仅可以特殊定制触摸屏,还可以支持整机全贴合服务。 |
![]() | 本公司产品有着完美的耐高温和耐高湿性能,产品有在恒温恒湿试验箱内经过高温和高湿85℃的环境下400小时以上测试,测试后还能正常工作。通过实际测试,保证我们的产品在特殊环境下还能工作稳定。 |
![]() | 本公司生产优势在于有着完美的质量管理体系和环境管理体系,符合ISO9001和ISO14001的管理标准,另外公司还符合IATF16949汽车工业和ISO13485医疗器械等质量体系认证。 |
![]() | 公司当前拥有自主知识产权 300 余项, 发明型专利 150 项,并在不断增加中。 |
![]() | 我司产品已通过CE、FCC、IC等国际强制性安全认证和RoHS等环保测试。 |
![]() | 我司大部分生产原材料是从龙头企业进口的,所以对产品有着良好的稳定性和耐用性。 |
工艺优势
Metal Mesh SNW纳米银线
/ | 金属网格(Metal Mesh) | 纳米银(SNW) | 氧化铟锡(ITO) |
电阻 | <0.1Ω/□ | 60~100Ω/□ | 150~400Ω/ |
电极制程 | 一次成形 | 多次成形 | 多次成形 |
边框宽度 | 10/10 微米 | 30/30 微米 | 50/50 微米 |
可绕折性 | R5mm@100k 次 | R5mm@100k 次 | 失败 |
离子迁移问题 | 无 | 有 | 无 |
ITO:仅能在中小尺寸应用电阻太大,反应时间长,55寸以上无法应用。
纳米银:核心原因产品的稳定性差,无法通过双85测试(温度85度,湿度85%),银离子迁移问题无法解决 。
环测结果比较
/ | 氧化铟锡-银 | 纳米银 | 金属网格 |
可靠性测试前 | |||
可靠性测试后 (40℃/95%RH 5V 120H) | ![]() | ![]() |
铜材料金属网格没有银材料会产生离子迁移问题的隐患!